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AFm是Atomic Force Microscopy的缩写,即原子力显微镜。它是一种采用原子力作为探测器的扫描技术,可以用来测量表面形貌、分子间相互作用和分子力学性质。
它是一种理想的精密分析工具,能够提供表面结构、体积、粗糙度、摩擦参数和拉伸弹性等方面的详细信息。
它也可以测量表面电化学性质,如pH值、氧化还原电位和极化过程,以及分子间作用力和分子间能量。
它广泛应用于生物、材料、化学和纳米科学中,研究包括表面凝结、蛋白质折叠和细胞形态等方面的各种材料和生物问题。